Базовые алгоритмы системы автоматического обнаружения и классификации дефектов для управления производством полупроводниковых микросхем

Шлаин В., Глейбман А. and Вагапов Д.
Additional contact information
Шлаин В.: Microspec Technologies Ltd
Глейбман А.: Microspec Technologies Ltd
Вагапов Д.: Microspec Technologies Ltd

Проблемы управления, 2006, issue 1, 47-53

Abstract: Рассмотрены базовые подходы к автоматизации обнаружения и классификации дефектов, возникающих при производстве микросхем. Описана система для решения проблемы улучшения управления производством микросхем. Обсуждены применяемые алгоритмы обработки изображений, распознавания образов, а также генерации вербальных описаний для автоматически полученных классов дефектов

Date: 2006
References: Add references at CitEc
Citations:

Downloads: (external link)
http://cyberleninka.ru/article/n/bazovye-algoritmy ... om-poluprovodnikovyh

Related works:
This item may be available elsewhere in EconPapers: Search for items with the same title.

Export reference: BibTeX RIS (EndNote, ProCite, RefMan) HTML/Text

Persistent link: https://EconPapers.repec.org/RePEc:scn:009530:14049566

Access Statistics for this article

More articles in Проблемы управления from CyberLeninka, Общество с ограниченной ответственностью "СенСиДат-Контрол"
Bibliographic data for series maintained by CyberLeninka ().