Современное состояние сферы нанотехнологий: анализ патентов (часть 2)

Игами Масацура and Оказаки Теруо
Additional contact information
Игами Масацура: Национальный институт научно-технологической политики (Япония)
Оказаки Теруо: Национальный институт научно-технологической политики (Япония)

Foresight-Russia Форсайт, 2008, vol. 2, issue 4, 22-31

Abstract: Более полное представление о характеристиках нанотехнологий дает анализ цитирования патентов. Связи между патентными заявками проливают свет на соотношение между различными направлениями изобретательской деятельности. Обычно рассматриваются два типа цитирования (рис. 10). Обратное цитирование цитирование предшествующих работ в патентных заявках на нанотехнологии. Оно отражает влияние более ранних изобретений на новые разработки. Прямое цитирование цитирование патентных заявок на нанотехнологии в других заявках. Количество прямых цитат принято считать показателем экономической или технологической ценности патентов.

Keywords: ИННОВАЦИОННАЯ ЭКОНОМИКА; НАНОТЕХНОЛОГИИ; ПАТЕНТНЫЙ АНАЛИЗ (search for similar items in EconPapers)
Date: 2008
References: Add references at CitEc
Citations:

Downloads: (external link)
http://cyberleninka.ru/article/n/sovremennoe-sosto ... liz-patentov-chast-2

Related works:
This item may be available elsewhere in EconPapers: Search for items with the same title.

Export reference: BibTeX RIS (EndNote, ProCite, RefMan) HTML/Text

Persistent link: https://EconPapers.repec.org/RePEc:scn:013126:14872526

Access Statistics for this article

More articles in Foresight-Russia Форсайт from CyberLeninka, Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования «Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики»
Bibliographic data for series maintained by CyberLeninka ().