La qualité technologique des brevets: deux lectures structurales
Raffaele Anedda ()
Additional contact information
Raffaele Anedda: UEA - Unité d'Économie Appliquée - ENSTA Paris - École Nationale Supérieure de Techniques Avancées - IP Paris - Institut Polytechnique de Paris
Post-Print from HAL
Abstract:
L'objectif de l'article est de proposer des lectures structurales de deux indicateurs de la qualité technologique des brevets : l'originalité et la généralité. Nous les transformons pour ce faire en des objets mathématiquesdes « graphes »et nous insistons sur des amendements et prolongements inspirés par cette nouvelle approche. Dans une première lecture, nous partons des indices originels et nous leur appliquons directement une représentation sous la forme de graphes. Dans une deuxième lecture, nous partons de matrices de flux technologiques et nous reconstruisons les indices de dispersion tels qu'ils ont été conçus initialement. Nous allons même un peu plus loin : nous proposons d'autres indices de la qualité technologique à partir de ces matrices, dont un qui nous semble de portée supérieure pour apprécier cette qualité. ABSTRACT. The aim of this article is to propose the structural readings of two indicators of the technological quality of patents: originality and generality. To do so, we transform them into mathematical objects-graphs-and insist on amendments and extensions inspired by this new approach. In the first reading, we start from the original indices and we directly apply a representation in the form of graphs to them. In the second reading, we start from the technological flow matrices and reconstruct the dispersion indices as they were originally conceived. We go even further by proposing other indices of technological quality from these matrices, including one that seems to have a greater scope for assessing this quality. MOTS-CLÉS. Brevet, technologie, théorie des graphes.
Keywords: patent; technology; graph theory (search for similar items in EconPapers)
Date: 2021
New Economics Papers: this item is included in nep-isf
Note: View the original document on HAL open archive server: https://shs.hal.science/halshs-03289528
References: View references in EconPapers View complete reference list from CitEc
Citations:
Published in Technologie et innovation, 2021, 6 (2), ⟨10.21494/ISTE.OP.2021.0625⟩
Downloads: (external link)
https://shs.hal.science/halshs-03289528/document (application/pdf)
Related works:
This item may be available elsewhere in EconPapers: Search for items with the same title.
Export reference: BibTeX
RIS (EndNote, ProCite, RefMan)
HTML/Text
Persistent link: https://EconPapers.repec.org/RePEc:hal:journl:halshs-03289528
DOI: 10.21494/ISTE.OP.2021.0625
Access Statistics for this paper
More papers in Post-Print from HAL
Bibliographic data for series maintained by CCSD ().